
陶瓷基板是电子封装核心材料,热学性能与表面精度直接影响器件散热与可靠性。百检依托精密检测设备,为各类陶瓷基板提供全维度质量评估服务。
一、检测范围
涵盖氧化铝基板(92%-99.6% Al₂O₃含量)、氮化铝基板(170-230 W/(m・K) 导热率级)、碳化硅基板(2H/4H 晶型)、LTCC 多层基板(3-20 层结构)、氧化铍高功率基板等,适配厚膜电路、激光器件、射频元件等场景。
二、核心检测标准
国际标准:ASTM E1461《激光闪射法测导热系数》、JIS R1601《精细陶瓷抗弯强度试验》、IEC 60250《介电常数测试》
行业规范:SEMI MF657《陶瓷基板平面度标准》、IPC-TM-650《翘曲度测试方法》
三、关键检测项目
热学性能:导热系数(室温≤20 W/(m・K),氮化铝基片≥170 W/(m・K)),热膨胀系数 α≤7×10⁻⁶/℃(25-500℃),热冲击循环(-50℃至 200℃50 次无开裂)
表面精度:平面度偏差≤3%,表面粗糙度 Ra≤0.2μm,翘曲度≤0.1mm/m,线宽精度 ±30μm
电学性能:介电常数 εr 偏差 ±5%(1MHz),体积电阻率≥10¹⁴Ω・cm,击穿场强≥20kV/mm
力学性能:抗弯强度≥300MPa,金属层剥离强度≥5N/mm,断裂韧性≥4MPa・m⁰・⁵
四、常用检测方法
热学测试:Netzsch LFA 467 激光闪射仪(温度范围 - 150-1000℃,精度 ±2%)
表面检测:Bruker Dimension Icon 原子力显微镜(纳米级粗糙度)、三坐标测量仪(平面度精度 ±0.003mm)
电学测试:Agilent LCR 仪(100Hz-1MHz)、高压击穿试验仪(电压精度 ±1%)
力学测试:Instron 5967 万能试验机(三点弯曲,加载速率 0.5mm/min)
五、百检检测优势
整合电子材料专项检测资源,覆盖热学、表面、电学全性能测试,适配 LTCC/HTCC 等多工艺基板;通过精密设备共享优化成本,收费贴合半导体封装企业需求,报告支撑器件散热方案设计。