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X射线荧光光谱仪(XRF)检测,稳态/瞬态荧光光谱检测
发布:百检网         阅读:1010         日期:2022-08-01

  可测元素范围:常规测试范围11Na-92U,部分仪器可以测到O元素,如果需要测到O需要备注好。

  制样方法:压片、融片

  结果模式:单质、氧化物

  一般是半定量测试,可测试的深度是毫米级,可作为一种快速的无损分析。

  结果展示

  测试结果给出的是txt格式或者word版测试结果。如下图分别为单质和氧化物模式的测试结果。

  样品要求

  1. 样品状态:可为粉末、块状、薄膜样品

  2. 粉末样品:粉末样品需要至少2 g ,最好3 g以上,样品在测试之前尽量干燥,200目以下;含碳元素含量超过10%的样品,请先将样品烧成灰,再测试。

  3. 块状、薄膜样品:块状样品尺寸在2.5 ~4.5cm之间,标明测试面(表面光滑平整)

  稳态/瞬态荧光光谱检测

  项目简介

  FLS系列注于稳态及时间分辨光谱测试,具有超高的灵敏度。通过搭配适宜的组件和附件,可以满足荧光、量子产率、磷光、近红外、荧光寿命等一系列测试需求。根据测试需要,可设置不同的光源和不同的测试模式,表1列举了不同测试模式对应的数据采集技术:

  除了仪器,滨松的设备也常用来测试材料的荧光量子产率。滨松的绝对量子产率测试系统,测试波段覆盖从紫外到近红外短波区域。相比PMT探测器,滨松产率设备配置的CCD探测器主要特点是多通道性,可读出一段光谱区域内的连续光谱,实现“全谱测定”,测试响应速度更快,特定波长范围下的相对检测噪音也低。

  此外,日立FL系列荧光光度计、HORIBA的荧光光谱仪、FS5等等。不同光谱仪的组成复杂程度不同,但它们的基本结构是相似的:光源照射样品,样品发出荧光,探测器接收信号,光电流经处理得到相应数值。


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